第435回講習会

開催概要

種別 講習会・シンポジウム・セミナー等
イベント名 第435回講習会 リバイバル企画
「精密加工を実現する計測技術の取り組み」
内容 光学機器をはじめとして、製品の性能向上や小型化などの要求は高まり続けており、更なる精密加工を実現する計測技術や、工作機上での計測技術が望まれています。そこで新型コロナウイルス禍中にオンデマンド開催した講習会の中から、精密加工と計測技術に深く関わる内容を厳選し、改めて基礎から最新技術まで幅広くご紹介します。前回見逃した方、今回改めて興味を持っていただいた方、多くの方々のご参加をお待ちしています。
開催期間 2024年2月6~23日
申込締切 2024年2月16日
主催/共催 本部
開催場所 オンデマンド配信
テキストの種類 冊子配布
詳細情報 詳細情報
備考

講習会テキスト(会員限定)

※ 講師からWeb転載の許可をいただいた原稿のみ公開しております。

題  目講 師
オンマシン/インプロセス計測の基礎と活用大阪大学
高谷 裕浩
オンマシン/インプロセス計測の新たな戦略と展開大阪大学
高谷 裕浩
インプロセス監視による加工機の制御と知能化慶應義塾大学
柿沼 康弘
超精密計測の基礎と新しい超精密計測技術の動向東京大学
高増 潔
加工機上測定と光学シミュレーションを利用した光学素子加工技術東京電機大学
森田 晋也
超精密加工の概要と新しい超精密機械加工技術の取組み中部大学
鈴木 浩文
超精密加工による最先端科学機器のための研究開発理化学研究所
山形 豊、細畠 拓也、竹田 真宏